Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 54.242.75.224
    [SESS_TIME] => 1710819559
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => f64e8151a87db4daf282499dfd5e8df8
    [UNIQUE_KEY] => 6ca1acab2c0e384ea97e070416d6e3ed
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Теплофизика и аэромеханика

2007 год, номер 2

Малогабаритный спектрометр для эмиссионного анализа потоков низкотемпературной плазмы

В.И. Наливайко1, П.А.Чубаков1, А.Н. Покровский1, А.А. Михальченко2, В.И. Кузьмин2, Е.В. Картаев2
1Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск
2Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича СО РАН, Новосибирск
Страницы: 257-267

Аннотация

Приведены результаты расчетов параметров вогнутых голографических решеток, позволяющие создавать малогабаритные спектрометры среднего и высокого спектрального разрешения. Голографические решетки изготовлены на новых субнаноструктурированных пленках халькогенидных полупроводников. Один из вариантов малогабаритного спектрометра среднего разрешения применен для измерения распределения температуры газового потока, истекающего из плазмотрона постоянного тока с секционированной межэлектродной вставкой методом относительной интенсивности. Применены существующие методы измерения температуры неоднородной оптически тонкой плазмы. Проведено сравнение спектрального и теплофизического методов измерения температуры.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. Черемисин А.А., Наливайко В.И., Границкий Л.В., Заграбчук С.Ф., и др. Широкодиапазонный космический спектрограф для мониторинга атмосферы земли // Оптика атмосферы и океана. - 1998. - Т. 11, № 9. - С. 978- 983.

2. Наливайко В.И., Юрьев Г.С., Гольденберг Б.Г., Пономарева М.А. Получение фазовых структур в оптических материалах // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2003. - № 11. - С. 52- 55.

3. Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. - М.: Наука, 1979. - 480 с.

4. Методы исследования плазмы. Под ред. В.Лохте- Хольтгревена. - М., 1971. - С. 108- 146.

5. Грим Г. Спектроскопия плазмы. - М.: Атомиздат, 1969. - С. 146- 162.

6. Alvarez R., Rodero A., Quintero M.C. An Abel inversion method for radially resolved measurements in the axial injection torch // Spectrochimica Acta, Part B. - 2002. - Vol. 57. - P. 1665- 1680.

7. Nestor O.H., Olsen H.N. Numerical methods for reducing line and surface probe data // SIAM. - 1960. - Vol. 2, No. 3. - P. 200- 207.

8. Курсков А.А., Ершов-Павлов Е.А., Чвялева Л.В. Измерение локальной температуры в плазме без использования инверсии Абеля // Журн. прикл. спектроскопии. - 1986. - T. 4, № 5. - С. 753- 757.

9. Касабов Г.А., Елисеев В.В. Спектроскопические таблицы для низкотемпературной плазмы. - М.: Атомиздат, 1973. - 160 с.

10. NIST Atomic Spectra Database Data (http://physics.nist.gov).

11. Кузьмин В.И. Плазмоструйная термообработка газотермических покрытий. Дисс. … к.т.н. Институт теплофизики СО РАН. - Новосибирск. - 1993. - 196 с.

12. Варгафтик Н.Б. Справочник по теплофизическим свойствам газов и жидкостей. - М.: Физматгиз, 1963. - С. 588- 593.