РЕНТГЕНОДИФРАКЦИОННОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ РАСПЛАВОВ Al—Si
В.П. Казимиров, А.М. Яковенко, А.С. Муратов, А.С. Роик, В.Э. Сокольский
Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, Украина, 01601, Киев, ул. Владимирская, 60
sasha78@univ.kiev.ua
Ключевые слова: расплавы, расплав Al—Si, микрогетерогенная структура, рентгеновская дифракция
Страницы: 360-367
Аннотация
Методом рентгеновской дифракции исследованы расплавы Al—Si с содержанием 0, 6, 10, 18, 21, 26, 35, 60, 80 и 100 ат.% Si. Рассчитаны структурные факторы, кривые распределения атомов и параметры, характеризующие ближайшее окружение атомов в расплавах. Для описания полученных результатов вблизи температуры линии ликвидус использована модель микронеоднородной структуры расплава, предполагающая наличие в расплавах микрогруппировок со статистическим распределением атомов, близких по составу к расплаву Al—6 %Si, и микрогруппировок жидкого кремния. Высокотемпературные исследования указывают на увеличение структурной однородности расплавов с ростом температуры вследствие прогрессирующей металлизации межатомных связей в микрогруппировках кремния.
|
