Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 54.160.133.33
    [SESS_TIME] => 1711645685
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => 6dab9a6c10fc7065751c8d71005574a5
    [UNIQUE_KEY] => 2e43587baf8c68b314b2bac0cf48f751
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Журнал структурной химии

2014 год, номер 6

ОСОБЕННОСТИ АНАЛИЗА ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ДАННЫХ ДЛЯ МАГНИТНЫХ НАНОСТРУКТУР

О.А. Максимова1,2, Н.Н. Косырев2,3, С.Н. Варнаков2,3, С.А. Лященко2,3, С.Г. Овчинников1,2
1Сибирский федеральный университет, Россия, Красноярск
maximo.a@mail.ru
2Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, Россия, Красноярск
3Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева, Россия, Красноярск
Ключевые слова: магнитоэллипсометрия, эллипсометрические измерения, магнитооптический эффект Керра, тонкие пленки, модель полубесконечной среды, коэффициент преломления, коэффициент поглощения, магнитооптический параметр, magneto-ellipsometry, ellipsometric measurements, magneto-optical Kerr effect, thin films, semi-infinite medium model, refraction coefficient, absorption coefficient, magneto-optical parameter
Страницы: 1190-1197
Подраздел: МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИИ «МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОСТАВА И СТРУКТУРЫ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ», НОВОСИБИРСК, 21 - 25 ОКТЯБРЯ 2013 г.

Аннотация

Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (ψ 0 и Δ 0) и магнитоэллипсометрических (ψ 0 + δψ и Δ 0 + δΔ) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур.