Анализ влияния различных дефектов на дифракцию от гидроксидов алюминия и структурные особенности оксидов алюминия, полученных из различных псевдобемитов
К.И. ШЕФЕР1,2, Э.М. МОРОЗ1, С.В. ЦЫБУЛЯ1,2
1Институт катализа им. Г. К. Борескова Сибирского отделения РАН, проспект Академика Лаврентьева, 5, Новосибирск 630090 (Россия)
shefer@catalysis.ru
2Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, ул. Пирогова, 2, Новосибирск 630090 (Россия)
tsybulya@catalysis.ru
Ключевые слова: гидроксиды и оксиды алюминия, рентгенографические методы исследования, структура, наноматериалы, aluminium hydroxides and oxides, X-ray analysis methods, structure, nanomaterials
Страницы: 149-155
Аннотация
Исследованы алюмооксидные системы с использованием комплекса рентгенографических методов: метода Ритвельда, метода моделирования дифракционных картин одномерно разупорядоченных материалов, метода моделирования высокодисперсных веществ, метода радиального распределения электронной плотности. Выполнено моделирование дифракционных картин гидроксидов алюминия и кривых радиального распределения электронной плотности оксидов и гидроксидов. С использованием данных предшествующего моделирования исследована реальная структура гидроксидов алюминия с разными физико- химическими свойствами и полученных из них оксидов. Результаты могут быть использованы при анализе любых реальных объектов, содержащих алюмооксидные системы, прежде всего наноразмерных.
DOI: 10.15372/KhUR20160205 |
