Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 54.210.85.205
    [SESS_TIME] => 1711708180
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => cd13ecd6c2b400453aa4c4f132e0115c
    [UNIQUE_KEY] => 25380fec9568d2c0d7b57ef1515078a9
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Журнал структурной химии

2017 год, номер 8

ВОЗМОЖНОСТИ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИХ МЕТОДОВ В ОПРЕДЕЛЕНИИ СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК УГЛЕРОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Э.М. Мороз
Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск, Россия
emoroz@catalysis.ru
Ключевые слова: рентгенографические методы, углеродные материалы, структура наноматериалов
Страницы: 1560-1565

Аннотация

Обсуждаются возможности использования рентгенографических методов при изучении углеродных материалов. Для определения фазового состава кристаллических материалов применен метод рентгенофазового анализа, реальной структуры - метод гармонического анализа дифракционных профилей, структурных особенностей и фазового состава наноматериалов - метод радиального распределения электронной плотности.