О времени жизни неосновных носителей заряда в нейтронно-легированном кремнии
Р. И. ГУЧЕТЛЬ1, А. А. КРАВЦОВ1, А. А. СТУК2
1ОАО"Корпорация КЕПП", Московская обл., Лыткарино, пос. Тураево 140080 (Россия), E-mail: kepp@online.ru 2Филиал НИФХИ имени Л.Я. Карпова, Калужская обл., Обнинск 249033 (Россия)
Страницы: 879-884
Аннотация
Представлены результаты работ по совершенствованию технологии получения НТЛ-кремния, в том числе по оптимизации режима отжига, с целью увеличения минимального времени жизни неосновных носителей заряда от фактически имевших место значений в диапазоне 100-200 мкс до 200-400 мкс при удельном сопротивлении около 50 Ом.см. Разработанные в результате проведенных исследований режимы позволили существенно сократить длительность термообработки, необходимой для отжига радиационных дефектов, и, как следствие, повысить время жизни неосновных носителей заряда. Проведен анализ результатов получения НТЛ-кремния, выращенного из исходного поликристаллического кремния разных фирм-производителей, позволяющий сделать вывод о том, что дальнейшие пути повышения времени жизни неосновных носителей заряда в НТЛ-кремнии связаны главным образом с совершенствованием технологии получения исходного материала.
|