Исследование погрешности бинокулярного триангуляционного метода контроля технических поверхностей
Е. А.Титова, А. Н. Байбаков, В. Плотников
Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН, Новосибирск, E-mail: splot@tdisie.nsc.ru
Страницы: 40-44 Подраздел: ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, ЭЛЕМЕНТЫ И СИСТЕМЫ
Аннотация
Исследован метод повышения точности триангуляционных измерений, который основан на регистрации рассеянного излучения с двух направлений и реализован с использованием второго симметричного приемного канала. Рассмотрено влияние микропрофиля поверхности на пространственную погрешность измерений. Приведены результаты экспериментальных исследований зависимости погрешности триангуляционных измерений от ориентации следов обработки на поверхности контроля.
|