МОЛЕКУЛЯРНАЯ И КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА ДВУХ ФАЗ 1-ФТОРСИЛАТРАНА. ОСОБЕННОСТИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОЙ ПЛОТНОСТИ
А. А. Корлюков1, М. Ю. Антипин2, М. И. Бузин3, Э. А. Зельбст4, Ю. И. Болгова5, О. М. Трофимова6, М. Г. Воронков7
1 Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова РАН 2 Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова РАН 3 Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова РАН 4 Иркутский государственный педагогический университет 5 Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова РАН 6 Иркутский институт химии им. А.Е. Фаворского СО РАН 7 Иркутский институт химии им. А.Е. Фаворского СО РАН, voronkov@irioch.irk.ru
Ключевые слова: 1-фторсилатран, молекулярная структура, рентгеновская дифракция, квантово-химический расчет
Страницы: 911-916
Аннотация
Методом рентгеновской дифракции установлено существование двух фаз 1-фторсилатрана (FSa) и изучены особенности их пространственной структуры. Фазовый переход происходит при 156-158 K и характеризуется низкой энергией. В низкотемпературной фазе четыре кристаллографически независимых молекулы упорядочены, а в высокотемпературной - в одной из двух независимых молекул разупорядочены β-атомы углерода. Проведен квантово-химический расчет кристаллической упаковки низкотемпературной фазы FSa. Оцененная величина прочности координационной связи N→Si в кристалле составляет 29,2 ккал/моль. Распределение зарядов свидетельствует о локализации валентной электронной плотности в области фрагмента O3SiF.
|