СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП, СОПРЯЖЁННЫЙ СО СПЕКТРОМЕТРОМ ТУННЕЛЬНЫХ ТОКОВ
В. Н. Вьюхин, Ю. А. Попов
Учреждение Российской академии наук Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения РАН vvn@iae.nsk.su, popov@iae.nsk.su
Ключевые слова: сканирующий туннельный микроскоп, туннельная спектроскопия, туннельный ток, вторая производная туннельного тока, вольт-амперная характеристика туннельного перехода
Страницы: 114-118
Аннотация
Представлен сканирующий туннельный микроскоп, снабжённый приставкой для выполнения туннельной спектроскопии высокого разрешения. Электронный блок микроскопа обеспечивает подвод иглы, сканирование, измерение туннельного тока и имеет средства сопряжения с блоком спектрометра туннельных токов. Спектрометр использует модуляционную методику для измерения второй производной вольт-амперной характеристики туннельного промежутка и имеет чувствительность до 0,25 пкА при амплитуде модулирующего сигнала 2 мВ.
|