СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МОДЕЛЕЙ ГОЛОГРАФИЧЕСКИХ ФОТОННЫХ КРИСТАЛЛОВ
Е.Ф. Пен, И.Г. Шаталов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, 630090, г. Новосибирск, просп. Академика Коптюга, 1
pen@iae.nsk.su
Ключевые слова: фотонные кристаллы, моделирование, голографическая литография, спектр отражения
Страницы: 84-94
Подраздел: ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
Аннотация
Представлена методика расчёта спектральных характеристик модельных голографических фотонных кристаллов (ФК), в том числе с дефектами пространственной структуры. Основу методики составляют модель многослойной системы тонких диэлектрических плёнок и расчётное распределение показателя преломления структуры ФК вдоль выбранных кристаллографических направлений. Приведены результаты расчётов исследуемых характеристик для различных примеров структур ФК.
|
