ОСОБЕННОСТИ АНАЛИЗА ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ДАННЫХ ДЛЯ МАГНИТНЫХ НАНОСТРУКТУР
О.А. Максимова1,2, Н.Н. Косырев2,3, С.Н. Варнаков2,3, С.А. Лященко2,3, С.Г. Овчинников1,2
1Сибирский федеральный университет, Россия, Красноярск
maximo.a@mail.ru
2Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, Россия, Красноярск
3Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева, Россия, Красноярск
Ключевые слова: магнитоэллипсометрия, эллипсометрические измерения, магнитооптический эффект Керра, тонкие пленки, модель полубесконечной среды, коэффициент преломления, коэффициент поглощения, магнитооптический параметр, magneto-ellipsometry, ellipsometric measurements, magneto-optical Kerr effect, thin films, semi-infinite medium model, refraction coefficient, absorption coefficient, magneto-optical parameter
Страницы: 1190-1197
Подраздел: МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИИ «МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОСТАВА И СТРУКТУРЫ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ», НОВОСИБИРСК, 21 - 25 ОКТЯБРЯ 2013 г.
Аннотация
Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра
Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (ψ
0 и Δ
0) и магнитоэллипсометрических (ψ
0 + δψ и Δ
0 + δΔ) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления (
n), поглощения (
k), действительной (
Q
1) и мнимой (
Q
2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур.
|
