РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ РАСПЛАВОВ Al-Ge В ШИРОКОМ ТЕМПЕРАТУРНО-КОНЦЕНТРАЦИОННОМ ИНТЕРВАЛЕ
О.М. Яковенко, В.П. Казимиров, А.С. Роик, Н.В. Головатая, С.П. Ялтанский†, В.Э. Сокольский
Киевский национальный университет им. Тараса Шевченко, Киев, Украина
3_14@ukr.net
Ключевые слова: расплав Al-Ge, микрогетерогенная структура, рентгеновская дифракция, ближний порядок, Al-Ge melts, microheterogeneous structure, X-ray diffraction, short-range order
Страницы: 117-125
Подраздел: СТРУКТУРА ЖИДКОСТЕЙ И РАСТВОРОВ
Аннотация
Проведено рентгенодифракционное исследование структуры расплавов Al-Ge с содержанием 0, 10, 20, 30,3, 40, 50, 60, 70, 80 и 100 ат.% Ge вблизи линии ликвидус и при 1273 K. Расплавы с содержанием 40, 70 и 80 ат.% Ge исследованы в температурном интервале до 1823 K. Характерной особенностью кривых структурного фактора (СФ) исследованных расплавов является наличие наплыва на высокоугловой ветви первого максимума при содержании более 20 ат.% Ge, положение которого совпадает с наплывом на кривой СФ жидкого германия. Повышение температуры приводит к постепенному сглаживанию наплыва вследствие увеличения структурной однородности расплавов, обусловленного металлизацией остаточных ковалентных связей между атомами германия. Установлено микронеоднородное строение расплавов при содержании германия выше 20 ат.%, определяемое сосуществованием микрогруппировок жидкого германия и расплава с содержанием 20 ат.% Ge, что позволяет удовлетворительно описать экспериментальные кривые СФ в концентрационном интервале 20-100 ат.% Ge при температуре вблизи линии ликвидус.
DOI: 10.15372/JSC20160113 |
