МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА АНТИРЕЛАКСИРУЮЩЕГО ПОКРЫТИЯ В ОПТИЧЕСКИХ ЯЧЕЙКАХ
К.А. Насыров
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, 630090, г. Новосибирск, просп. Академика Коптюга, 1 nasyrov@iae.nsk.su
Ключевые слова: магнитооптический резонанс, поляризация излучения, оптические уравнения Блоха, magneto-optical resonance, light polarization, optical Bloch equations
Страницы: 85-91 Подраздел: ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
Аннотация
Предложен простой метод определения качества антирелаксирующего покрытия стенок вакуумных оптических ячеек, содержащих пары щелочных металлов. Метод состоит в регистрации временнóй зависимости интенсивности флуоресценции щелочных атомов при облучении ячейки импульсами резонансного излучения. Теория предсказывает, что для определения качества покрытия достаточно знать скорость затухания флуоресценции и отношение интенсивностей флуоресценции в начале и в конце лазерного импульса.
DOI: 10.15372/AUT20160111 |