РАЗРАБОТКА МЕТОДИКИ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ТОНКИХ СЛОЕВ НА ПРИМЕРЕ ФТАЛОЦИАНИНА КОБАЛЬТА
А.С. Сухих1,2, Т.В. Басова1,2, С.А. Громилов1,2
1Институт химической кинетики и горения им. В.В. Воеводского СО РАН, 630090 Россия, Новосибирск, Институтская, 3 a_sukhikh@niic.nsc.ru 2Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, 630090 Россия, Новосибирск, ул. Пирогова, 2
Ключевые слова: фталоцианин кобальта, рентгенографическое исследование тонких пленок, cobalt phthalocyanine, X-ray diffraction study of thin films
Страницы: 648-651
Аннотация
Описана методика рентгенографического исследования тонких слоев с использованием монокристального дифрактометра, оснащенного микрофокусной трубкой. Показано, что слои a-фталоцианина кобальта, нанесенные методом термического испарения в вакууме на полированные поверхности подложек (стекло, кварц), имеют идеально ориентированную поликристаллическую структуру. Все кристаллиты ориентированы плоскостью (00 l ) вдоль поверхности подложки. Проведен анализ структурной организации слоев.
DOI: 10.15372/JSC20160322 |