Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 3.137.178.122
    [SESS_TIME] => 1732349905
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => 3a21e0037fd445ede1a3b3a77f67269b
    [UNIQUE_KEY] => 2f264aabdfb088b7b5157cf98377c1d0
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Журнал структурной химии

2017 год, номер 5

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДАННЫХ 2D ДИФРАКТОМЕТРИИ ОРИЕНТИРОВАННЫХ ОБРАЗЦОВ ПРИ ВЫБОРЕ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ

А.С. Сухих1,2, Т.В. Басова1,2, С.А. Громилов1,2
1Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск, Россия
a_sukhikh@niic.nsc.ru
2Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, Новосибирск, Россия
Ключевые слова: рентгеновская дифрактометрия поликристаллов, ориентированные образцы, тонкие пленки, индицирование, фталоцианины палладия, X-ray diffractometry of polycrystals, oriented samples, thin films, indexing, palladium phthalocyanines
Страницы: 992-1002

Аннотация

Описан подход к обоснованному выбору варианта индицирования дифрактограммы. Методика основана на совместном использовании данных рентгенографических исследований в схемах Брэгга-Брентано и 2D GIXD преимущественно ориентированных поликристаллических образцов.

DOI: 10.15372/JSC20170514