РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ЛИТИРОВАННОГО ГРАФИТА, ПОЛУЧЕННОГО ТЕРМИЧЕСКИМ НАПЫЛЕНИЕМ ЛИТИЯ
Л.Л. Лаптева1,2, Ю.В. Федосеева1,2, П.Н. Гевко1, Д.А. Смирнов3, А.В. Гусельников1, Л.Г. Булушева1,2, А.В. Окотруб1,2
1Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск, Россия
lapteva.l.l@yandex.ru
2Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, Новосибирск, Россия
3Institute of Solid State Physics, Dresden, Germany
Ключевые слова: природный графит, литирование, термическое напыление, рентгеновская эмиссионная спектроскопия, ближняя тонкая структура рентгеновского поглощения, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, квантово-химическое моделирование, natural graphite, lithiation, thermal deposition, X-ray emission spectroscopy, near edge X-ray absorption fine structure, X-ray photoelectron spectroscopy, quantum chemical simulation
Страницы: 1221-1227
Аннотация
Методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), рентгеновской эмиссионной спектроскопии (РЭС) и спектроскопии ближней тонкой структуры рентгеновского поглощения (NEXAFS) проведено in situ исследование электронного строения литированного природного графита, полученного методом термического напыления лития на графит в вакууме. С помощью РФЭС и NEXAFS спектроскопии установлено, что термическое осаждение паров лития приводит к формированию поверхностного литированного слоя графита и к изменению его электронного строения. Из квантово-химического моделирования экспериментального РЭС СKα-спектра литированного графита установлено, что атомы лития преимущественно локализуются на краях графитовых фрагментов. Методом атомно-силовой микроскопии выявлено, что размер чешуек природного графита варьируется от 50 до 200 нм.
DOI: 10.15372/JSC20170615 |
