ИССЛЕДОВАНИЕ ОТРАЖЕНИЯ ДИАФРАГМАМИ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ В ТЕПЛОВИЗИОННЫХ ПРИБОРАХ
А.Р. Новоселов, П.А. Алдохин, П.П. Добровольский, А.В. Гусаченко, Б.Н. Новгородов, К.П. Шатунов, С.М. Чурилов
Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, "КТИ ПМ", г. Новосибирск, Россия
novoselov@oesd.ru
Ключевые слова: фотоприёмные устройства, криостат, инфракрасное излучение
Страницы: 117-125
Аннотация
Исследовано отражение инфракрасного излучения покрытиями диафрагм в фотоприёмных устройствах тепловизионных приборов: чёрной полимерной краской, анодным окислом, травлёным коваром, взвесью графита или окиси титана в криогенностойком лаке и др. Выяснены спектры и интегральные коэффициенты отражения покрытиями диафрагм в диапазоне длин волн 2-14 мкм при углах падения излучения 15 и 45◦. Также изучены в спектральных диапазонах 3,4-4,8 и 7,5-13,5 мкм уровни отражённого инфракрасного излучения в широком диапазоне углов от 0 до 80◦ при угле падения излучения около 15◦. По результатам исследований определено, что наименьший уровень отражения ИК-излучения имеет покрытие из взвеси графита в криогенностойком лаке (разработанном в филиале ИФП СО РАН «КТИПМ», г. Новосибирск). Интегральные коэффициенты отражения для данного покрытия составили 3,98 % (в спектральном диапазоне 3-5 мкм) и 5,69 % (в диапазоне 8-12 мкм).
DOI: 10.15372/AUT20210313 |
