Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 18.216.126.33
    [SESS_TIME] => 1735232336
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => e49bfac9b0bf6cae11ad7991f49585cd
    [UNIQUE_KEY] => 4a5bc2c54e5fc1064d5b5fc3c1bf41df
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Автометрия

2024 год, номер 5

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ВЗАИМНОЙ КОРРЕЛЯЦИИ ИЗОБРАЖЕНИЙ ДЛЯ РАСЧЁТА КООРДИНАТ ПОЛОЖЕНИЯ ОБЪЕКТОВ КРУГЛОЙ ФОРМЫ И ИЗМЕРЕНИЯ ИХ РАЗМЕРОВ

А.А. Голицын1,2,3, С.А. Голицын3, Н.А. Сейфи1
1Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН «Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники», Новосибирск, Россия
aag-09@yandex.ru
2Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия
3Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
vzevz123@gmail.com
Ключевые слова: взаимная корреляция, обработка изображений, диагностика полупроводниковых изделий
Страницы: 50-59

Аннотация

Предложена методика вычисления координаты положения круглого объекта на изображении и его диаметра. В основе методики лежит вычисление значений взаимных корреляций фрагмента анализируемого изображения с несколькими характерными изображениями-эталонами, чтобы одновременно определить, и какой эталон, и какое его смещение относительно исследуемого фрагмента являются наиболее подходящими. Методика позволяет не только вычислить размер и координаты, но и определить фактическое отсутствие объекта в поле зрения. Показана её реализуемость и практическая применимость на примере алгоритма анализа мест сварки проволочных соединений на поверхности полупроводников с характерным шариком, которые используются при сборке интегральных микросхем. Алгоритм может быть использован в целях неразрушающего контроля на производстве полупроводниковых изделий до их корпусирования. Алгоритм позволяет не только измерить диаметр шарика и определить, находится ли его координата в допуске или нет, но также установить, имеется ли соединение вообще.

DOI: 10.15372/AUT20240506
Добавить в корзину
Товар добавлен в корзину