ВОЛЬТАМПЕРОМЕТРИЯ ТВЕРДЫХ ФАЗ В ДИАГНОСТИКЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ
Н. Ф. Захарчук1, Т. П. Смирнова2, В. Е. Федоров3
1 Учреждение Российской академии наук Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск, nzak@niic.nsc.ru
2 Учреждение Российской академии наук Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск
3 Учреждение Российской академии наук Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск
Ключевые слова: вольтамперометрия твердых фаз, оксидные слои, сверхпроводники
Страницы: 171-177
Аннотация
Метод вольтамперометрии твердых фаз применен для фазового анализа пленок собственных оксидов на полупроводниках типа AIIIBV. Показано, что пленки собственных оксидов на полупроводниках типа AIIIBV, как анодные, так и термические, не являются гомогенными, а представляют собой смесь различных фаз и их структурных модификаций. Установлены причины нестабильного состояния собственных оксидных слоев на полупроводниках типа AIIIBV, обусловленные образованием в процессе окисления их поверхности неравновесного набора фаз, их аморфных и нестабильных кристаллических форм. Разработана методика экспрессной идентификации характеристик сверхпроводящих фаз. Все электрохимические характеристики обнаруженного сигнала свидетельствуют о присутствии в сверхпроводящих фазах кислорода, способного принимать электроны и таким образом обеспечивать электронейтральность молекулы.
|
