ИССЛЕДОВАНИЕ ПОЛИМЕТАЛЛООРГАНОСИЛОКСАНОВ МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ И ПОЗИТРОННОЙ АННИГИЛЯЦИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
С.В. Гардионов, Н.П. Шапкин, М.И. Баланов, В.В. Васильева, В.И. Разов, В.О. Трухин
Дальневосточный федеральный университет, 690091 Россия, Владивосток, ул. Октябрьская, 27
gardionov.sv@dvfu.ru
Ключевые слова: полиметаллоорганосилоксаны, рентгеновская дифрактометрия, позитронная аннигиляционная спектроскопия, области когерентного рассеяния, методика Миллера-Бойера, polymetalloorganosiloxanes, X-ray diffractometry, positron annihilation life-time spectroscopy, coherent scattering regions, the Miller-Boyer method
Страницы: 537-541
Аннотация
Методом рентгеновской дифрактометрии и позитронной аннигиляционной спектроскопии были исследованы структурные характеристики образцов полиметаллофенилсилоксанов (ПМОС) с соотношением Si/M, отвечающим валентному состоянию металла, а именно межплоскостные расстояния (d001), размер областей когерентного рассеяния (ОКР), размер площадей поперечного сечения полимерных цепей ( s ) по Миллеру-Бойеру, степень аморфности (β). Было показано, что наблюдается прямо пропорциональная зависимость между логарифмом межплоскостного расстояния d 001 и логарифмом площади поперечного сечения s для ПМОС. Эта зависимость является обратной изменению кристаллохимического радиуса иона. Извлечение иона железа из полиферрофенилсилоксана (ПFeФС) привело к резкому уменьшению межплоскостного расстояния, которое оказалось меньше d001 в полифенилсилоксанах, также увеличилась ОКР за счет уменьшения диаметра полимерной цепи. Исходя из данных позитронной аннигиляционной спектроскопии, показано, что наблюдается прямая зависимость интенсивности аннигиляции (I3), скорости аннигиляции (K3), степени аморфности от площади поперечного сечения ПМОС.
DOI: 10.15372/JSC20160312 |
