|
|
Array
(
[SESS_AUTH] => Array
(
[POLICY] => Array
(
[SESSION_TIMEOUT] => 24
[SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
[MAX_STORE_NUM] => 10
[STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
[STORE_TIMEOUT] => 525600
[CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
[PASSWORD_LENGTH] => 6
[PASSWORD_UPPERCASE] => N
[PASSWORD_LOWERCASE] => N
[PASSWORD_DIGITS] => N
[PASSWORD_PUNCTUATION] => N
[LOGIN_ATTEMPTS] => 0
[PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
)
)
[SESS_IP] => 3.144.46.90
[SESS_TIME] => 1732180665
[BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
[fixed_session_id] => 64b125b111e740d7f5fab1ba745f6b44
[UNIQUE_KEY] => 93e6f1a5fbf391c7cde884f7fe7d357a
[BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
(
[LOGIN] =>
[POLICY_ATTEMPTS] => 0
)
)
2023 год, номер 6
И.В. Калачев1,2, И.А. Милёхин1,2, Е.А. Емельянов2, В.В. Преображенский2, В.С. Тумашев2, А.Г. Милёхин2, А.В. Латышев2
1Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия i.kalachev1@g.nsu.ru 2Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, Новосибирск, Россия mia2994@gmail.com
Ключевые слова: фотолюминесценция, комбинационное рассеяние света, ближнепольная оптическая спектроскопия, наноструктуры, нанопроволоки, фононы, локализованный плазмонный резонанс
Страницы: 3-11
Аннотация >>
Представлены экспериментальные данные по изучению фононных и оптических свойств нанопроволок GaAs ориентации (111), расположенных на золотой подложке с помощью методов спектроскопии комбинационного рассеяния света (КРС) и фотолюминесценции (ФЛ). Структурные параметры нанопроволок были определены методами атомно-силовой (АСМ) и сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). В спектрах микроКРС и микроФЛ отдельной нанопроволоки GaAs наблюдаются моды оптических фононов GaAs и их обертонов, вплоть до третьего порядка, и полоса экситонной фотолюминесценции. В спектрах микроФЛ проявляется анизотропия интенсивности ФЛ в нанопроволоках, причём максимальный/минимальный сигнал наблюдается при направлении вектора поляризации вдоль/поперёк проволоки. Выполнено картирование наноФЛ отдельной нанопроволоки GaAs с пространственным разрешением 20 нм, что существенно меньше дифракционного предела. При переходе к нанометровым масштабам обнаружено плазмонное усиление сигнала ближнепольной экситонной наноФЛ, обусловленное металлизированной АСМ-иглой.
DOI: 10.15372/AUT20230601 |
Н.Г. Галкин, К.Н. Галкин, О.В. Кропачев, А.М. Маслов, И.М. Чернев, Е.Ю. Субботин, Д.Л. Горошко
Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, Владивосток, Россия galkin@iacp.dvo.ru
Ключевые слова: хром, железо, кальций, плёнки силицидов, структура, комбинационное рассеяние света, пики КРС, ИК-спектроскопия
Страницы: 12-22
Аннотация >>
В условиях сверхвысокого вакуума тремя методами (твердофазной эпитаксией, реактивной эпитаксией и молекулярно-лучевой эпитаксией) выращены эпитаксиальные и поликристаллические плёнки силицидов железа (Fe), хрома (Cr) и кальция (Ca) различной толщины (от 3,2 до 380 нм) на кремниевой и сапфировой подложках. Методом рентгеновской дифракции для них определены кристаллическая структура и сопряжение с решёткой кремния. Сравнительный анализ спектров комбинационного рассеяния света (КРС) и спектров дальней ИК-спектроскопии показал, что максимальной интенсивностью пиков КРС обладают плёнки полупроводниковых силицидов, а обнаруженные сдвиги их положений вызваны искажениями в решётках силицидов. Установлено, что в плёнках моносилицидов железа и хрома при фиксированной длине волны лазерного возбуждения ( λ = 628,3 нм) и мощности 3,4 мВт интенсивность пиков КРС падает с уменьшением толщины плёнки, что приводит к их полному исчезновению при толщине ниже 10 нм. На монокристаллическом сапфире выращены плёнки трисилицида хрома, что позволило впервые обнаружить для него при λ = 488 нм и мощности 0,42 мВт активные фононы КРС в волновых числах 214,3 и 273,1 см-1. Исследованные плёнки моносилицидов переходных металлов представляют значительный интерес с точки зрения перспектив их использования в качестве материалов для термоэлектроники и спинтроники, а систематизированная информация об активных фононах КРС и ИК-активных фононах позволит оперативно определять тип сформированной фазы сразу после роста плёнок.
DOI: 10.15372/AUT20230602 |
И.А. Карташов1,3,4, С.Н. Подлесный1, В.А. Антонов1, В.П. Попов1, Ю.Н. Пальянов3,3
1Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, Новосибирск, Россия
kart@isp.nsc.ru
2Институт геологии и минералогии им. В. С. Соболева СО РАН, Новосибирск, Россия
palyanov@igm.nsc.ru
3Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
4Новосибирский государственный технический университет, Новосибирск, Россия
Ключевые слова: искусственный алмаз, наноструктуры с центрами NV, оптическое детектирование магнитных резонансов, комбинационное рассеяние света
Страницы: 23-32
Аннотация >>
Исследованы спектральные характеристики оптически детектируемого магнитного резонанса отрицательно заряженных центров азот-вакансия (NV-) в синтетических алмазах и наностолбах на их поверхности, сформированных сфокусированным ионным пучком Ga+ при заселении нижних спиновых подуровней микроволновым излучением. В ходе исследований для проявляющихся спиновых резонансов при различных значениях внешнего магнитного поля выявлено как существенное уменьшение гиромагнитного соотношения, так и существенное падение контраста фотолюминесценции для направлений центров NV-, наклонных к оси наностолбов вследствие остаточных дефектов от ионного травления, регистрируемых на спектрах комбинационного рассеяния света в форме пиков от аморфного углерода и графита и создаваемых ими напряжений.
DOI: 10.15372/AUT20230603 |
К.А. Окотруб1, Ю.В. Зайцева1, С.В. Адищев1, Т.А. Рахманова1,2, С.Я. Амстиславский1,2
1Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия okotrubk@gmail.com 2Институт цитологии и генетики СО РАН, Новосибирск, Россия t.rakhmanova@g.nsu.ru
Ключевые слова: комбинационное рассеяние света, биологическая клетка, микрофлюидная кювета, фотополимерная стереолитография
Страницы: 33-40
Аннотация >>
Предложено применение фотополимерной стереолитографии для создания миллифлюидных устройств для проведения спектроскопических исследований. Работоспособность подхода была продемонстрирована на примере создания миллифлюидной кюветы для исследования одиночных ооцитов мыши методом комбинационного рассеяния света (КРС) в условиях меняющегося состава окружающего раствора. Показано, что при использовании конструкции кювет типа «сэндвич» возможно проведение измерений КРС от образцов внутри кюветы, несмотря на интенсивный сигнал от материала, из которого кювета изготовлена.
DOI: 10.15372/AUT20230604 |
Н.В. Слюсаренко1, И.Д. Юшина2, Е.А. Слюсарева1, Е.В. Головкина3, С.Н. Крылова3, А.Н. Втюрин3, А.С. Крылов3
1Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия sci_box@mail.ru 2Южно-Уральский государственный университет, Челябинск, Россия idu-xda@mail.ru 3Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, Красноярск, Россия e.v.golovkina@mail.ru
Ключевые слова: комбинационное рассеяние света, металлоорганические каркасные соединения, ориентация пор, теория функционала электронной плотности
Страницы: 41-51
Аннотация >>
Предложен метод определения ориентации направления пор в металлоорганических каркасных структурах по спектрам поляризованного комбинационного рассеяния света. В методе используется чувствительность интенсивности линий комбинационного рассеяния света к геометрии распространения в кристалле. Работоспособность метода показана на кристаллах DUT-8 (Ni, Co). Интерпретация полученных результатов выполнена на основе анализа симметрии и направления колебаний в рамках периодических вычислений теории функционала электронной плотности. Одновременный подход позволил описать колебания и найти главную ориентацию кристалла, коллинеарную направлению пор. Знание ориентации пор необходимо для задач адсорбции и конструирования сложных многокомпонентных материалов на базе металлоорганических каркасных соединений.
DOI: 10.15372/AUT20230605 |
А.И. Пархоменко, А.М. Шалагин
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия par@iae.nsk.su
Ключевые слова: атомы щелочных металлов, безынверсное усиление излучения, диодная накачка, столкновения, коэффициенты Эйнштейна, крыло спектральной линии
Страницы: 52-65
Аннотация >>
Теоретически исследован новый метод генерации лазерного излучения без инверсии населённостей в «красном» крыле D1-линии атомов щелочных металлов при резонансном поглощении широкополосного излучения лазерных диодов накачки на переходе D1. Причиной возникновения лазерной генерации является то обстоятельство, что в красном крыле спектральной линии вероятность вынужденного испускания превышает вероятность поглощения, если однородное уширение из-за взаимодействия активных частиц с буферным газом существенно превышает естественное (при больших давлениях буферного газа). Получены аналитические формулы, представляющие работу лазера на парах щелочных металлов при поперечной диодной накачке. Выяснено, что наиболее перспективным объектом для наблюдения лазерной генерации без инверсии населённостей в красном крыле D1-линии атомов щелочных металлов являются атомы цезия. В достаточно длинной активной среде (длина среды в 50 раз превышает её ширину) эффективность преобразования излучения накачки в лазерное излучение может достигать 57 % при давлении буферного газа 5 атм, интенсивности излучения диодов накачки 5 кВт/см2 и полуширине его спектра 1 см-1. Частота лазерного излучения может перестраиваться на несколько десятков см-1.
DOI: 10.15372/AUT20230606 |
А.Е. Кирик, И.Д. Ватник, О.А. Горбунов, Д.В. Чуркин
Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия stelthman@yandex.ru
Ключевые слова: волоконные лазеры, случайная обратная связь, узкополосная генерация
Страницы: 66-73
Аннотация >>
Узкие спектральные моды, формирующие спектр генерации волоконного лазера вынужденного комбинационного рассеяния со случайной распределённой обратной связью вблизи порога генерации, представляют большой интерес как с фундаментальной, так и с практической точки зрения. Малая спектральная ширина, стохастический характер генерации и относительно короткое время жизни предъявляют значительные требования к экспериментальному оборудованию и методикам. Обсуждаются экспериментальные подходы, позволяющие произвести всестороннюю характеризацию таких мод.
DOI: 10.15372/AUT20230607 |
А.В. Бритвин1, С.И. Коняев1, Б.В. Поллер1,2, А.Б. Поллер1, М.С. Хайретдинов2,3
1Институт лазерной физики СО РАН, Новосибирск, Россия a.v.britvin@yandex.ru 2Новосибирский государственный технический университет, Новосибирск, Россия lablis@mail.ru 3Институт вычислительной математики и математической геофизики СО РАН, Новосибирск, Россия marat@opg.sscc.ru
Ключевые слова: лазерный мониторинг природных и антропогенных процессов, лазерные атмосферные линии, стандарт частоты, инфразвуковые колебания в атмосфере, флуктуации фазы
Страницы: 74-79
Аннотация >>
Рассматривается задача измерения пространственно-временны́х и энергетических параметров акустических инфразвуковых колебаний в атмосфере на базе размещения лазерных и волоконных линий в зонах геоэкологического мониторинга. В основе измерений лежит явление акустооптического преобразования на инфранизких частотах, связанного с влиянием внешнего акустического волнового поля на характеристики распространения в этом поле лазерных импульсных пучков. В качестве внешних источников поля используются фоновые и антропогенные атмосферные акустические процессы. Измеряемым параметром является флуктуация фазы (частоты) атмосферного оптического сигнала относительно опорного оптического волоконного сигнала. Приводятся характеристики лазерной атмосферно-волоконной системы и некоторые результаты экспериментов по оценке статистики флуктуаций фазы атмосферных лазерных импульсов и параметры инфразвуковых полей в заданной атмосферной зоне мониторинга.
DOI: 10.15372/AUT20230608 |
Д.Л. Горошко1, И.М. Гаврилин2, А.А. Дронов2, О.А. Горошко1, Л.С. Волкова3
1Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения РАН, Владивосток, Россия goroshko@iacp.dvo.ru 2Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Москва, Россия gavrilin.ilya@gmail.com 3Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, Москва, Россия lidiya.volkova.96@mail.ru
Ключевые слова: сплав SiGe, теплопроводность, электрохимическое осаждение германия, пористый кремний
Страницы: 80-88
Аннотация >>
Сплошные и пористые плёнки сплавов Si1-xGex с содержанием германия около 40 % и толщиной 3-4 мкм, сформированные на монокристаллическом кремнии методом электрохимического осаждения германия в матрицу пористого кремния с последующим быстрым термическим отжигом при температуре 950 °C, исследованы методами спектроскопии комбинационного рассеяния света (КРС), оптической спектроскопии и сканирующей электронной микроскопии. На основе спектров, снятых в стоксовой и антистоксовой областях частот с использованием статистики Больцмана и закона теплопроводности Фурье, определены коэффициенты теплопроводности плёнок, которые составляют 7-9 и 3-6 Вт / (м ⋅ К) для сплошной и пористой плёнок соответственно. Низкая теплопроводность пористой плёнки объясняется дополнительным фононным рассеянием на развитой поверхности пор. Перспективность применения таких плёнок в термоэлектрических преобразователях обеспечивается простотой и масштабируемостью способа изготовления сплава, а также его низкой теплопроводностью.
DOI: 10.15372/AUT20230609 |
Н.Н. Мельник1, С.К. Симаков2, Д.С. Косцов1
1Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия melnik@lebedev.ru 2ООО «АДАМАНТ», Санкт-Петербург, Россия sergei_simakov@yahoo.com
Ключевые слова: ископаемые угли, комбинационное рассеяние света, аллотропия углерода
Страницы: 89-93
Аннотация >>
Методом комбинационного рассеяния света (КРС) исследовались образцы ископаемых углей из различных месторождений. Обнаружен необычный вид спектра КРС угольного графита из месторождения Сэрэген (Таймыр). Спектр состоит из интенсивных узких полос, характерных, как правило, для монокристаллов, в отличие от стандартных спектров для ископаемых углей - уширенные полосы D и G и слабо выраженный спектр КРС второго порядка. Исследования показали, что нет прямой аналогии между спектрами таймырского образца угольного графита и спектрами КРС других аллотропных форм углерода. На основании проведённых экспериментов сделано предположение, что есть вероятность существования новой аллотропной формы углерода.
DOI: 10.15372/AUT20230610 |
В.П. Попов1, В.А. Антонов1, В.А. Володин1, А.В. Мяконьких2, К.В. Руденко2, В.А. Скуратов3
1Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, Новосибирск, Россия popov@isp.nsc.ru 2Физико-технологический институт им. К. А. Валиева РАН, Москва, Россия amiakonkikh@gmail.com 3Объединённый институт ядерных исследований, Дубна, Россия skuratov@jinr.ru
Ключевые слова: водородный перенос, кремний-на-сапфире, диоксид гафния, межслойные механические напряжения, сегнетоэлектричество, быстрые тяжёлые ионы
Страницы: 94-103
Аннотация >>
Приведены результаты по изменению параметров псевдо-МОП-транзисторов на мезаструктурах кремний-на-сапфире (КНС) при облучении быстрыми тяжёлыми ионами (БТИ) Xe+26 (150 МэВ) и Bi+51 (670 МэВ) до флюенса 2 ⋅ 1011 см-2, свидетельствующие о накоплении механических напряжений и зарядов в промежуточных сегнетоэлектрических (Fe) слоях плёнок HfO2 (HO) толщиной 20 нм, Hf0,5Zr0,5O2 (HZO), ламинированных вставками из монослоёв Al2O3 (HA, HZA) или без них. Гетероструктуры КНС формировались прямым сращиванием и водородным переносом плёнки кремния (500 нм) с предварительно нанесёнными методом плазменно-стимулированного атомно-слоевого осаждения нанослоями HA, HZA на сапфир. Электрофизические параметры определялись из стокозатворных характеристик ( Ids-Vg ) псевдо-МОП-транзисторов c вольфрамовыми сток/истоковыми электродами толщиной 100 нм, нанесёнными магнетронным напылением на КНС-мезаструктуры через литографическую маску. Сравнение этих характеристик с данными рамановского рассеяния показало соответствие введённых облучением БТИ механических напряжений сжатия в кремнии с отношениями объёмов треков Xe и Bi в сегнетоэлектрике HA и сапфире.
DOI: 10.15372/AUT20230611 |
И.А. Ларкин1, А.В. Вагов2, В.И. Корепанов1
1Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов РАН, Черноголовка, Россия vaniala2000@yahoo.co.uk 2Московский институт электроники и математики им. А. Н. Тихонова, Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», Москва, Россия alexei201215@gmail.com
Ключевые слова: комбинационное рассеяние, регуляризация Тихонова, обработка данных
Страницы: 104-112
Аннотация >>
Предложена методика обработки зашумлённых спектральных данных, позволяющая реализовать математически обоснованную селекцию острых пиков сигнала на неизвестном гладком фоне, для которого отсутствует достоверная теоретическая модель. Основная идея методики состоит в построении оптимизирующего функционала, дающего наиболее вероятные параметры спектральных линий. В отличие от метода регуляризации Тихонова, где из зашумлённого сигнала выделяется гладкая неизвестная функция, в нашем случае рассматривается задача регуляризации суперпозиции гладкой функции фона с острыми пиками. Предлагаемый подход даёт алгоритм обработки экспериментальных данных, позволяющий отфильтровывать случайный шум и определять как параметры пиков, так и функцию фона с хорошей точностью. Нахождение оптимальных параметров регуляризации основано на априорных предположениях о гладкости функции фона и статистических свойствах случайного шума.
DOI: 10.15372/AUT20230612 |
С.М. Борзов, П.Е. Котляр, О.И. Потатуркин
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия borzov@iae.nsk.su
Ключевые слова: гиперспектральная аппаратура, электрооптика, спектральное разделение, интерферометр Маха, микрозеркальное сканирование
Страницы: 113-123
Аннотация >>
На основе анализа основных современных тенденций в сфере построения гиперспектральной аппаратуры показано, что при создании малогабаритных приборов нового поколения, ориентированных на применение в наземных системах наблюдения, перспективным является использование интегральных оптико-электронных схем и оптических узлов в планарном исполнении. В частности, отмечена целесообразность применения в системах сканирования микрозеркальных матриц, а в системах спектроразделения - планарных интерферометров Маха - Цендера. Это позволяет отказаться от громоздких, медленных и не всегда надёжных механических узлов и создавать приборы с оперативной регистрацией гиперспектральных изображений.
DOI: 10.15372/AUT20230613 |
|