Высокопроводящая аморфная фаза углерода.
A. Sayeed, V. Meenakshi, S. V. Subramanyam, A. Cholli* and S. Tripati*
Indian Institute of Science, Department of Physics, Bangalore 560012 (India)
*University of Massachusetts, Centre for Advanced Materials, Lowell, Massachusetts 01854 (USA)
Аннотация
Пленки аморфного углерода получены газофазным пиролизом органических ангидридов (малеиновый ангидрид, перилентетракарбоксильный диангидрид, тетрахлорфталевый ангидрид) при температурах около 700, 800 и 900 oС. Пленки рентгеноаморфны. Измерения низкотемпературной электропроводности (1.5–300 K) и магнетосопротивления (в поле до 6.5 Тл) показывают, особенно при температуре ниже 20 K, что свойства образцов колеблются от изоляторных с переменной длиной прыжка до металлических. Металлоподобные образцы характеризуются слабой локализацией и эффектами электрон-электронного взаимодействия. Некоторые образцы носят промежуточный характер между металлами и диэлектриками в критической области вблизи границы металл – диэлектрик. Химическая стабильность углеродных пленок и их устойчивость к коррозии изучены методом циклической вольтамперометрии. Пленки подвергали различным электрохимическим воздействиям (менялись растворители, электролиты, приложенные потенциалы). Результаты показывают, что пленки могут использоваться как антикоррозионное покрытие. Проведено сравнение свойств пленок с характеристиками платины, меди и спектроскопически чистого углерода.
|
