ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ПРОТЯЖЕННЫХ ТОНКИХ СТРУКТУР СПЕКТРОВ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭЛЕКТРОНОВ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ АТОМНЫХ ПАРНЫХ КОРРЕЛЯЦИЙ В ОКСИДНЫХ ПЛЕНКАХ НИКЕЛЯ
Д. Е. Гай1, О. Р. Бакиева2, А. Н. Деев3, Ф. З. Гильмутдинов4
1 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru 2 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru 3 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru 4 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru
Ключевые слова: электронная спектроскопия, спектры энергетических потерь электронов, атомная парная корреляционная функция
Страницы: 275-282
Аннотация
Получены спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов (EELFS) с поверхностей чистого никеля (M2,3 EELFS) стехиометрической оксидной пленки NiO (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода) и ″негомогенной″ оксидной пленки на поверхности никеля Ni-O (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода). С учетом мультипольности процесса возбуждения внутренних уровней атомов электронным ударом проведены расчеты амплитуд и интенсивностей процессов электронных переходов для соответствующих внутренних уровней атомов. По результатам расчетов из экспериментальных EELFS спектров выделены соответствующие нормированные осциллирующие части. Хорошее соответствие экспериментальных данных и теоретических расчетов (на тестовых объектах Ni и NiO) показало, что использованные теоретические подходы и результаты расчетов для описания EELFS-спектров являются хорошим приближением. Используя результаты проведенных расчетов и параметры упругого рассеяния вторичного электрона (данные FEEF-8), методами регуляризации по Тихонову получены атомные парные корреляционные функции из экспериментальных нормированных осциллирующих частей EELFS-спектров.
|