СПЕКТРОСКОПИЯ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ И СЕЧЕНИЕ НЕУПРУГОГО РАССЕЯНИЯ В АНАЛИЗЕ СЛОИСТЫХ СТРУКТУР СИСТЕМЫ Fe-Si
А. С. Паршин1, Г. А. Александрова2, С. Н. Варнаков3, С. Г. Овчинников4
1 Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева, aparshin@sibsau.ru 2 Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева 3 Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН 4 Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Ключевые слова: спектроскопия потерь энергии отраженных электронов, сечение неупругого рассеяния, средняя длина неупругого свободного пробега электрона
Страницы: 451-455
Аннотация
В работе представлено исследование формирования интерфейса слоистых структур системы Fe-Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов. Количественный элементный анализ осуществлен с использованием произведения средней длины неупругого свободного пробега на сечение неупругого рассеяния электронов. Показано, что интерфейс Fe-Si достаточно однороден.
|