ИЗУЧЕНИЕ ОСОБЕННОСТЕЙ НАНОСТРУКТУРЫ ВЫСОКОЗОЛЬНЫХ УГЛЕРОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ МАЛОУГЛОВОГО РЕНТГЕНОВСКОГО РАССЕЯНИЯ
Ю.В. Ларичев1,2, А.П. Коскин1, П.М. Елецкий1, С.А. Полуянов1, Ф.В. Тузиков1,2, А.В. Ищенко1, Д.А. Зюзин1
1Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, 630090 Новосибирск, пр. Акад. Лаврентьева, 5
ylarichev@gmail.com
2Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, ул. Пирогова, 2
Ключевые слова: углерод-кремнеземные композиты, просвечивающая электронная микроскопия, рентгеновская дифрактометрия, малоугловое рентгеновское рассеяние, контрастирование, carbon-silica composites, transmission electron microscopy, X-ray diffraction, small-angle X-ray scattering, masking liquid
Страницы: 784-790
Подраздел: МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИИ «МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОСТАВА И СТРУКТУРЫ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ», НОВОСИБИРСК, 21 - 25 ОКТЯБРЯ 2013 г.
Аннотация
Из различных реагентов в одну стадию приготовлены наноструктурированные углерод-кремнеземные композиционные материалы. Проведена их характеризация методами БЭТ, просвечивающей электронной микроскопии, рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рентгеновского рассеяния. Предложен эффективный метод количественного анализа структурно-дисперсных характеристик темплатной фазы кремнезема в данных композитах.
|
